SEM 扫描电子显微镜

扫描电子显微镜（SEM）核心解析

扫描电子显微镜（SEM）是一款集真空系统、电子束系统与成像系统于一体的精密分析仪器。它通过聚焦高能电子束扫描样品表面，收集二次电子、背散射电子等信号，精准获取样品的形貌、成分、晶体结构、电子结构及内部电磁场等物理化学信息。凭借最高几十万倍的放大倍数与纳米级分辨率，它已成为微观形貌观察与成分分析领域不可或缺的核心工具。

注意事项

样品必须完全干燥，严禁含水或易挥发溶剂，防止真空下汽化污染系统。

非导电样品需提前喷金/喷碳处理，消除荷电效应。